价值，我来坚守。

LED晶粒点测 (LED Chip Probing )与分检 (LED Mapping Sorting )是LED产品生产过程中必要且重要的工作，而探针(Probe)即是应用于LED晶粒点测制程，通常会按照电性值、亮度、波长、ESD等几个关键数值进行测试与分检，再进行之后的封装工程，因此，是LED制造中对制造成本影响相当大的重要制程。

有鉴于此，晶晟精密科技(股)公司于2012年起陆续完成3件探针专利申请：
。探针专利案号:M 426768 号
。探针专利案号:M 429100 号
。探针专利案号:M 506970 号

并于2014 年通过ISO 9001认证，专注产品质量与专业服务，与客户一起打拼，实实在在的提供最大竞争力，是晶晟精密始终如一的信念。