價值，我來堅守。

LED晶粒點測 (LED Chip Probing )與分檢 (LED Mapping Sorting )是LED產品生產過程中必要且重要的工作，而探針(Probe)即是應用於LED晶粒點測製程，通常會按照電性值、亮度、波長、ESD等幾個關鍵數值進行測試與分檢，再進行之後的封裝工程，因此，是LED製造中對製造成本影響相當大的重要製程。

有鑑於此，晶晟精密科技(股)公司於2012年起陸續完成3件探針專利申請：
。探針專利案號:M 426768 號
。探針專利案號:M 429100 號
。探針專利案號:M 506970 號

並於2014 年通過ISO 9001認證，專注產品品質與專業服務，與客戶一起打拼，實實在在的提供最大競爭力，是晶晟精密始終如一的信念。