垂直式探针规格
半导体IC封测领域中，在晶圆片未切割成单一颗晶粒前，都需要进行在晶圆片阶段的电性点测，而探针卡搭配各式规格的探针便提供此一功能。
探针材料
P7, H3C, Pd Alloy
针径
1.5/2.0/2.5/3.0/3.5 mil
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垂直式探针规格
半导体IC封测领域中，在晶圆片未切割成单一颗晶粒前，都需要进行在晶圆片阶段的电性点测，而探针卡搭配各式规格的探针便提供此一功能。
探针是探针卡里重要的核心部件，透过探针与晶圆片上晶粒的电极接触进行电性连接，来达到电性测试检验。
A. Cobra Probe:
| 探针规格 | |
| 探针材料 | P7, H3C, Pd Alloy |
| 针径 | 1.5/2.0/2.5/3.0/3.5 mil |
| 针尖形式 | 平头 |
| 针头形式 | Headed/Headless |
| 其他规格 | 可客制化 |