垂直式探針
半導體IC封測領域中，在晶圓片未切割成單一顆晶粒前，都需要進行在晶圓片階段的電性點測，而探針卡搭配各式規格的探針便提供此一功能。
探針材料
P7, H3C, Pd Alloy
針徑
1.5/2.0/2.5/3.0/3.5 mil
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垂直式探針規格
半導體IC封測領域中，在晶圓片未切割成單一顆晶粒前，都需要進行在晶圓片階段的電性點測，而探針卡搭配各式規格的探針便提供此一功能。
探針是探針卡裡重要的核心部件，透過探針與晶圓片上晶粒的電極接觸進行電性連接，來達到電性測試檢驗。
A. Cobra Probe:
| 探針規格 | |
| 探針材料 | P7, H3C, Pd Alloy |
| 針徑 | 1.5/2.0/2.5/3.0/3.5 mil |
| 針尖形式 | 平頭 |
| 針頭形式 | Headed/Headless |
| 其他規格 | 可客製化 |