價值,我來堅守。
LED晶粒點測 (LED Chip Probing )與分檢 (LED Mapping Sorting )是LED產品生產過程中必要且重要的工作,而探針(Probe)即是應用於LED晶粒點測製程,通常會按照電性值、亮度、波長、ESD等幾個關鍵數值進行測試與分檢,再進行之後的封裝工程,因此,是LED製造中對製造成本影響相當大的重要製程。
有鑑於此,晶晟精密科技(股)公司於2012年起陸續完成3件探針專利申請:
。探針專利案號:M 426768 號
。探針專利案號:M 429100 號
。探針專利案號:M 506970 號
並於2014 年通過ISO 9001認證,專注產品品質與專業服務,與客戶一起打拼,實實在在的提供最大競爭力,是晶晟精密始終如一的信念。